全新XK-50M 研究级金相显微镜集公司多项首创于一身，从外观到性能都紧跟国际领先设计风向，致力于拓展工业领域全新格局。50M 秉承西尼科不断探索不断超越的品牌设计理念，为客户提供完善的工业检测解决方案。
多档分光比观察头设计
全新50M 系列观察筒，采用宽光束成像系统设计，支持26.5mm 世界领先的超宽视野观察，带给您全新的大视野体验。两档式正像铰链三目观察筒，保证样品的移动方向与您通过目镜观察到的方向一致，使操作更加得心应手。
三档式铰链三目观察筒，在成像光线100% 用于双目观察或三目摄影的基础上，增加一档20% 用于双目观察，80% 用于显微摄影，方便用户同时对镜下图像与视频图像进行对比观察；
偏振系统
偏振系统包括起偏器和检偏器，可做偏光检测，在半导体和PCB 检测中，可消除杂光，细节更清楚。检偏器分为固定式检偏器和360 度旋转式检偏器。360°旋转式检偏器可在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态。可在偏振系统的基础上加载舜宇全新研发微分干涉器，建立诺曼尔斯基微分干涉衬比系统。
诺曼尔斯基微分干涉衬比系统
全新研发的U-DICR 微分干涉组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来，如LCD 导电粒子，精密磁盘表面划痕等。
物镜转换器，多孔可选
多孔物镜转换器可以对同一个标本的观测点进行连续的更加合理的低、中、高放大倍率观察。全新的物镜转换器将光轴与转动轴之间的夹角降低到15°，提高了对中精度和齐焦精度，且外观更加紧凑。
尺寸图：
