XK-XPL-3230透反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验，也可进行液态高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相、粒径观察，是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。
性能特点
▲ 采用无限远光学系统及模块化功能设计。
▲ 配置无穷远无应力长工作距离平场物镜。
▲ 广角平场目镜：视场直径Ф22mm。
▲ 粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带限位锁紧装置，微动格值:2μm。
▲ 偏光观察装置可移入或移出光路，起偏器与检偏器均可360°旋转。
▲ 旋转式载物台，360°等分刻度,游标格值6'，中心可调，带锁紧装置，工作台垂直有效行程可达 30mm。
▲ 宽电压电源(85-265V 50/60Hz). 6V30W卤素灯照明，亮度可调。
▲ 三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影，摄影时可100%通光，适合低照度显微图像拍摄。
