为什么要检测爆破粒子？
爆破粒子通常指的是 ACF（各向异性导电膜）中的导电粒子。ACF 是一种用于连接显示面板与驱动电路的关键材料，在液晶显示（LCD）、有机发光二极管（OLED）等显示技术的邦定工艺中起着重要作用。
ACF 中的导电粒子主要为镀金塑胶球，在邦定过程中，通过热压工艺，即施加一定的温度、压力和时间，使 ACF 胶固化，同时让导电粒子爆破。导电粒子爆破后会形成缺口，其内部的金属层得以暴露，从而实现 IC（集成电路）与 ITO（氧化铟锡）之间的电气连接。
爆破粒子的状态和稳定性对屏幕产品的质量和性能至关重要。如果粒子爆破不达标，可能会导致屏幕显示异常，如出现花屏、黑屏等问题。因此，在屏幕生产过程中，需要对爆破粒子进行严格的检测，如使用显微镜等设备观察粒子的被压状态，检查是否存在压力过重、过轻、过少等情况，以确保粒子能够有效导通，保障屏幕的质量和可靠性。
爆破粒子应该怎么检测？
通常使用高倍反射金相显微镜就可以做检测了，倍率用光学200x、500x即可显现清晰的外观月牙形态，物镜可以选用无限远规格的高分辨率物镜，或者明暗场的半复物镜都是可以的。适配光学相机和软件系统方便采集相关图片信息。
样品原貌：
检测效果：
200x光学检测
500x光学检测
